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標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范：涂層測厚儀測量彩涂板厚度的方法

2022-07-06

彩涂板，應(yīng)用廣泛（詳見文末表格）。 涂層的厚度對產(chǎn)品質(zhì)量有著重要的影響。為了確保涂層質(zhì)量的一致性，必須進(jìn)行厚度檢測。以下內(nèi)容以磁性-渦流測厚儀為例，詳細(xì)介紹了彩色涂層板色差的檢測方法。參照文件《GB/T13448-2019》。

推薦測量設(shè)備：三恩時(shí)一體兩用涂層測厚儀YT4500-P1，可快速、準(zhǔn)確測試多種磁性金屬基體（磁性法）和非磁性金屬基體（渦流法）涂層厚度。具體方法如下：

1. 儀器校準(zhǔn)和準(zhǔn)確度驗(yàn)證

1.1 可由設(shè)備供應(yīng)商在設(shè)備出廠前采用厚度標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)；也可由設(shè)備使用者按照設(shè)備說明書的規(guī)定，采用厚度標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行儀器的校準(zhǔn)。

1.2 采用厚度標(biāo)準(zhǔn)片或已知涂層厚度的自制標(biāo)準(zhǔn)樣板，對校準(zhǔn)后的儀器進(jìn)行準(zhǔn)確度的驗(yàn)證試驗(yàn)。

驗(yàn)證試驗(yàn)的準(zhǔn)確度和試驗(yàn)頻度可根據(jù)實(shí)際需要制訂。制訂驗(yàn)證試驗(yàn)的準(zhǔn)確度要求時(shí)，需同時(shí)考慮設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)片的準(zhǔn)確度。采用本方法進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)的厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板的單位要求為微米（um），可采用附錄A的方法制作得到鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板，并其將鍍層質(zhì)量（g/m2）換算為厚度（um）。

2 測定

2.1 選取距試樣邊緣距離大于25mm的至少5個(gè)不同位置進(jìn)行測量。為提高測定結(jié)果的代表性，可適當(dāng)增加測量次數(shù)。

2.2 方法測定彩涂板涂層厚度的準(zhǔn)確度會受到以下因素影響：

a）試樣的彎曲：應(yīng)確保待測試樣平整無彎曲。

b）外來顆粒物：應(yīng)確保試樣表面和探頭表面清潔，防止外來顆粒物影響試驗(yàn)結(jié)果。

c）外部磁場：因磁性探頭測定結(jié)果會受到外部磁場的影響，因此應(yīng)確保測定過程中無外部磁場的影響。

d）有金屬填充料的涂層：當(dāng)彩涂板涂層中含有金屬填充料時(shí)，由于渦流場會受到金屬填充料的影響，因此測定結(jié)果會受到涂層中金屬填充物成分和含量的影響，測定時(shí)應(yīng)考慮該影響。

e）基板的電性能：渦流探頭測定結(jié)果會受到基板導(dǎo)電性能的影響，設(shè)備應(yīng)采用補(bǔ)償方式減少影響。

f）探頭壓力：磁性-渦流復(fù)合測頭測定時(shí)的壓力會影響測定結(jié)果，設(shè)備所帶探頭應(yīng)有保持探頭壓力恒定的裝置，測定時(shí)應(yīng)注意此影響。